dc.contributor.advisor |
Santoro, Flávia Maria |
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dc.contributor.author |
Nascimento, Anderson Silva do |
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dc.date.accessioned |
2018-06-26T21:37:15Z |
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dc.date.available |
2018-06-26T21:37:15Z |
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dc.date.issued |
2015-09-18 |
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dc.identifier.citation |
NASCIMENTO, Anderson Silva do. Um método para identificar variabilidade em processos intensivos em conhecimento.2015. x, 101 f. Dissertação (Mestrado em Informática) - Universidade Federal do Estado do Rio de Janeiro (2003-), Rio de Janeiro, 2015. |
pt_BR |
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/unirio/11806 |
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dc.description |
Dissertação também disponível em formato impresso, com o número de chamada CCET MI 2015/08. |
pt_BR |
dc.description.sponsorship |
n/a |
pt_BR |
dc.language.iso |
Portuguese |
pt_BR |
dc.rights |
openAccess |
pt_BR |
dc.title |
Um método para identificar variabilidade em processos intensivos em conhecimento |
pt_BR |
dc.type |
masterThesis |
pt_BR |
dc.contributor.advisor-co |
Cereja, José Ricardo da Silva |
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dc.contributor.referee |
Santoro, Flávia Maria |
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dc.contributor.referee |
Cereja, José Ricardo da Silva |
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dc.contributor.referee |
Amorim, Fernanda Araujo Baião |
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dc.contributor.referee |
Souza, Jano Moreira de |
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dc.degree.department |
CCET |
pt_BR |
dc.degree.grantor |
Universidade Federal do Estado do Rio de Janeiro - UNIRIO |
pt_BR |
dc.degree.level |
Mestrado Acadêmico |
pt_BR |
dc.degree.local |
Rio de Janeiro, RJ. |
pt_BR |
dc.degree.program |
Programa de Pós-Graduação em Informática |
pt_BR |
dc.subject.cnpq |
CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA |
pt_BR |
dc.subject.cnpq |
CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO |
pt_BR |
dc.subject.en |
Variability |
pt_BR |
dc.subject.en |
Knowledge Intensive Process |
pt_BR |
dc.subject.en |
Business Process Modeling |
pt_BR |
dc.subject.en |
Context |
pt_BR |
dc.subject.en |
Business Process |
pt_BR |
dc.description.abstracten |
One of the most important features of a Knowledge Intensive Process (KIP) is the variability: different activities can be performed according to certain factors, i.e., certain behaviors lead to different directions at runtime. Despite the variability to be a key point in KIP, the various existing proposals in the literature do not explain satisfactorily the behavior of such processes and why they change in one specific instance. This master dissertation aims to present the KIP-Organon method, designed to identify the elements that might cause variability in Knowledge Intensive Processes. |
pt_BR |
dc.degree.country |
Brasil |
pt_BR |
dc.description.sponsordocumentnumber |
n/a |
pt_BR |
dc.description.abstractpt |
Uma das mais importantes características de um Processo Intensivo em Conhecimento (PIC) é a variabilidade: atividades diferentes podem ser executadas mediante determinados fatores, ou seja, certos comportamentos levam a direcionamentos diferentes em tempo de execução. Apesar de a variabilidade ser um ponto fundamental em PIC, nas diversas propostas existentes na literatura, ainda não são tratados de forma satisfatória aspectos relativos aos motivos que levam o comportamento dos processos a serem modificados. Este artigo tem o objetivo de apresentar o método KIP-Organon, elaborado para identificar os elementos que podem causar variabilidade em Processos Intensivos em Conhecimento. |
pt_BR |
dc.subject.pt |
Variabilidade |
pt_BR |
dc.subject.pt |
Processos Intensivos em Conhecimento |
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dc.subject.pt |
Contexto |
pt_BR |
dc.subject.pt |
Processos de Negócio |
pt_BR |